محلل المعادن ,نظام تحليل النظافة ,أجهزة تحليل العناصر

مطياف OES للقراءة المباشرة المستخدم في المسبك
نظام قراءة CMOS عالي الدقة تكلفة إجمالية منخفضة للملكية توفر البصريات الفراغية استقرارًا سريعًا استقرار ممتاز على المدى الطويل تصميم ذكي ، تصميم معياري التطبيقات الحديدية وغير الحديدية سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر واجهة مستخدم ودية
- مطياف OES
- مطياف يستخدم في مسبك
- مطياف OES المستخدم في المسبك
- مطياف OES القراءة المباشرة
عرض المزيد
مطياف المعادن بالانبعاث الفراغي للتحليل الكيميائي للصلب
نظام قراءة CMOS عالي الدقة تكلفة إجمالية منخفضة للملكية توفر البصريات الفراغية استقرارًا سريعًا استقرار ممتاز على المدى الطويل تصميم ذكي ، تصميم معياري التطبيقات الحديدية وغير الحديدية سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر واجهة مستخدم ودية
- مطياف الانبعاث الفراغي
- مطياف المعادن
- مطياف للتحليل الكيميائي للصلب
عرض المزيد
مطياف الانبعاث البصري الفراغي لتحليل المعادن
محلل المعادن عالي الأداء من الجيل الرابع القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، الكشف عن المعادن حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض تكامل عالي وموثوقية واستقرار انخفاض تكلفة التشغيل وسهولة الصيانة غرفة بصرية فراغية واستهلاك منخفض للأرجون تقنية Argon jet لتحسين تحليل العينات الصغيرة تعديل المعلمة الموحدة 30+ عنصر كحد أقصى تحليل النيتروجين (N) عالي 0.03-0.9٪
عرض المزيد
مطياف محلل سبائك والمعادن المباشر
محلل المعادن عالي الأداء من الجيل الرابع القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، الكشف عن المعادن حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض تكامل عالي وموثوقية واستقرار انخفاض تكلفة التشغيل وسهولة الصيانة غرفة بصرية فراغية واستهلاك منخفض للأرجون تقنية Argon jet لتحسين تحليل العينات الصغيرة تعديل المعلمة الموحدة 30+ عنصر كحد أقصى تحليل النيتروجين (N) عالي 0.03-0.9٪
- محلل السبائك والمعادن
- مطياف محلل المعادن
- محلل المعادن
- مطياف القراءة المباشرة
عرض المزيد
مطياف OES للقراءة المباشرة لتحليل المعادن
محلل المعادن عالي الأداء من الجيل الرابع القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، الكشف عن المعادن حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض تكامل عالي وموثوقية واستقرار انخفاض تكلفة التشغيل وسهولة الصيانة غرفة بصرية فراغية واستهلاك منخفض للأرجون تقنية Argon jet لتحسين تحليل العينات الصغيرة تعديل المعلمة الموحدة 30+ عنصر كحد أقصى تحليل النيتروجين (N) عالي 0.03-0.9٪
- مطياف القراءة المباشرة
عرض المزيد
مطياف Arc Spark OES لتحليل المعادن
محلل المعادن عالي الأداء من الجيل الرابع القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، الكشف عن المعادن حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض تكامل عالي وموثوقية واستقرار انخفاض تكلفة التشغيل وسهولة الصيانة غرفة بصرية فراغية واستهلاك منخفض للأرجون تقنية Argon jet لتحسين تحليل العينات الصغيرة تعديل المعلمة الموحدة 30+ عنصر كحد أقصى تحليل النيتروجين (N) عالي 0.03-0.9٪
- قوس شرارة oes
- يا شرارة
عرض المزيد
مطياف الانبعاث البصري للشرارة للمواد الأساسية Galvalume
القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، مطياف الانبعاث البصري متعدد القواعد ، تحليل كامل للطيف لأقصى قدر من المرونة الأولية حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض نطاق الطول الموجي: 130nm-800nm ، بحد أقصى 30+ عنصرًا الاستقرار والتكرار على المدى الطويل مطيافية انبعاث ضوئي رأسية ممتازة مقياس فراغ لمراقبة حالة الفراغ في الوقت الحقيقي تحليل الكربون المنخفض للغاية ، تحليل النيتروجين المنخفض تطبيقات تحليل العينات الصغيرة
عرض المزيد
مطياف الانبعاث البصري المحمول المستخدم في اختبار PMI
تحليل في الموقع مرن وموثوق وآمن التفتيش في الموقع في أي وقت وفي أي مكان تحديد المواد الإيجابية (PMI) خفيفة الوزن تصل إلى حوالي 20 كجم دقة عالية واستقرار مناسبة لمهمة التحليل في ظروف مختلفة متين مدمج وبصريات عالية الأداء تصميم محمول ذكي متعدد الوسائط
- مطياف متحرك
- سعر مطياف المحمول
- محلل معادن محمول
- محلل ccd محمول
- محلل المعادن OES المحمول
- ماجستير PMI
عرض المزيد
مطياف الانبعاث الضوئي Arc Spark للألمنيوم
القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، مطياف الانبعاث البصري متعدد القواعد ، تحليل كامل للطيف لأقصى قدر من المرونة الأولية حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض نطاق الطول الموجي: 130nm-800nm ، بحد أقصى 30+ عنصرًا الاستقرار والتكرار على المدى الطويل مطيافية انبعاث ضوئي رأسية ممتازة مقياس فراغ لمراقبة حالة الفراغ في الوقت الحقيقي تحليل الكربون المنخفض للغاية ، تحليل النيتروجين المنخفض تطبيقات تحليل العينات الصغيرة
- مطياف الانبعاث الضوئي القوسي
- مطياف شرارة القوس
عرض المزيد
مطياف شرارة القوس المتحرك لتحليل المعادن
تحليل في الموقع مرن وموثوق وآمن التفتيش في الموقع في أي وقت وفي أي مكان تحديد المواد الإيجابية (PMI) خفيفة الوزن تصل إلى حوالي 20 كجم دقة عالية واستقرار مناسبة لمهمة التحليل في ظروف مختلفة متين مدمج وبصريات عالية الأداء تصميم محمول ذكي متعدد الوسائط
- محلل المعادن المحمول
- مطياف متنقل
- محلل OES المحمولة
- مطياف شرارة القوس المتحرك
- ماجستير PMI
عرض المزيد
مطياف الانبعاث الضوئي CCD لتحليل المعادن
على أساس ccd , تفريغ شرارة , محلل المعادن . تحليل دقيق لجميع المعادن الشائعة لمراقبة جودة المنتجات الواردة والصادرة . نطاق الطول الموجي الفعال: 130nm-800nm . قابلية التوسع الفائقة لتلبية احتياجات توسيع الأعمال وعرة وموثوقة , سهل تنفيذه متاح كنموذج منضدة أو أرضية
- مطياف الانبعاث الضوئي لتحليل المعادن
- مطياف الانبعاث البصري ccd
عرض المزيد
مطياف شرارة القوس المتحرك لتحليل المعادن
تحليل في الموقع مرن وموثوق وآمن التفتيش في الموقع في أي وقت وفي أي مكان تحديد المواد الإيجابية (PMI) خفيفة الوزن تصل إلى حوالي 20 كجم دقة عالية واستقرار مناسبة لمهمة التحليل في ظروف مختلفة متين مدمج وبصريات عالية الأداء تصميم محمول ذكي متعدد الوسائط

عرض المزيد