مطياف الانبعاث البصري ,محلل المعادن ,مورد شرارة OES

مطياف الانبعاث البصري القوسي W4
نظام قراءة CMOS عالي الدقة تكلفة إجمالية منخفضة للملكية توفر البصريات الفراغية استقرارًا سريعًا استقرار ممتاز على المدى الطويل تصميم ذكي ، تصميم معياري التطبيقات الحديدية وغير الحديدية سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر واجهة مستخدم ودية
- مطياف الانبعاث البصري
- مطياف OES
- شرارة اويس
- مطياف شرارة القوس
عرض المزيد
W5 مطياف الانبعاث البصري للقراءة المباشرة
محلل المعادن عالي الأداء من الجيل الرابع القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، الكشف عن المعادن حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض تكامل عالي وموثوقية واستقرار انخفاض تكلفة التشغيل وسهولة الصيانة غرفة بصرية فراغية واستهلاك منخفض للأرجون تقنية Argon jet لتحسين تحليل العينات الصغيرة تعديل المعلمة الموحدة 30+ عنصر كحد أقصى تحليل النيتروجين (N) عالي 0.03-0.9٪
- محلل المعادن
- مطياف OES
- مطياف الانبعاث البصري
- مطياف القراءة المباشرة
عرض المزيد
W6 فراغ قوس شرارة مطياف الانبعاث البصري
القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، مطياف الانبعاث البصري متعدد القواعد ، تحليل كامل للطيف لأقصى قدر من المرونة الأولية حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض نطاق الطول الموجي: 130nm-800nm ، بحد أقصى 30+ عنصرًا الاستقرار والتكرار على المدى الطويل مطيافية انبعاث ضوئي رأسية ممتازة مقياس فراغ لمراقبة حالة الفراغ في الوقت الحقيقي تحليل الكربون المنخفض للغاية ، تحليل النيتروجين المنخفض تطبيقات تحليل العينات الصغيرة
- شرارة مطياف
- مطياف انبعاث شرارة
عرض المزيد
مطياف الانبعاث البصري TY9000 CCD
على أساس ccd , تفريغ شرارة , محلل المعادن . تحليل دقيق لجميع المعادن الشائعة لمراقبة جودة المنتجات الواردة والصادرة . نطاق الطول الموجي الفعال: 130nm-800nm . قابلية التوسع الفائقة لتلبية احتياجات توسيع الأعمال وعرة وموثوقة , سهل تنفيذه متاح كنموذج أعلى مقاعد البدلاء أو الأرضية
- مطياف للمواد الأساسية galvalume
عرض المزيد
مطياف الانبعاث البصري M4 OES
تكلفة إجمالية منخفضة للملكية بصريات خالية من الفراغ مع تثبيت سريع أداء تحليلي وموثوقية لا مثيل لهما استقرار ممتاز على المدى الطويل سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر تصميم مدمج ، حجم صغير. 20 عنصرًا كحد أقصى
- مطياف الانبعاث
عرض المزيد
Spark OES Spectrometer للتحليل الكيميائي للصلب
نظام قراءة CMOS عالي الدقة تكلفة إجمالية منخفضة للملكية توفر البصريات الفراغية استقرارًا سريعًا استقرار ممتاز على المدى الطويل تصميم ذكي ، تصميم معياري التطبيقات الحديدية وغير الحديدية سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر واجهة مستخدم ودية
- مطياف للتحليل الكيميائي للصلب
- شرارة مطياف OES
عرض المزيد
مطياف OES للقراءة المباشرة المستخدم في المسبك
نظام قراءة CMOS عالي الدقة تكلفة إجمالية منخفضة للملكية توفر البصريات الفراغية استقرارًا سريعًا استقرار ممتاز على المدى الطويل تصميم ذكي ، تصميم معياري التطبيقات الحديدية وغير الحديدية سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر واجهة مستخدم ودية
- مطياف يستخدم في مسبك
- مطياف OES المستخدم في المسبك
- مطياف OES القراءة المباشرة
عرض المزيد
مطياف المعادن بالانبعاث الفراغي للتحليل الكيميائي للصلب
نظام قراءة CMOS عالي الدقة تكلفة إجمالية منخفضة للملكية توفر البصريات الفراغية استقرارًا سريعًا استقرار ممتاز على المدى الطويل تصميم ذكي ، تصميم معياري التطبيقات الحديدية وغير الحديدية سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر واجهة مستخدم ودية
- مطياف الانبعاث الفراغي
- مطياف المعادن
- مطياف للتحليل الكيميائي للصلب
عرض المزيد
مطياف الانبعاث البصري الفراغي لتحليل المعادن
محلل المعادن عالي الأداء من الجيل الرابع القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، الكشف عن المعادن حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض تكامل عالي وموثوقية واستقرار انخفاض تكلفة التشغيل وسهولة الصيانة غرفة بصرية فراغية واستهلاك منخفض للأرجون تقنية Argon jet لتحسين تحليل العينات الصغيرة تعديل المعلمة الموحدة 30+ عنصر كحد أقصى تحليل النيتروجين (N) عالي 0.03-0.9٪
عرض المزيد
مطياف محلل سبائك والمعادن المباشر
محلل المعادن عالي الأداء من الجيل الرابع القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، الكشف عن المعادن حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض تكامل عالي وموثوقية واستقرار انخفاض تكلفة التشغيل وسهولة الصيانة غرفة بصرية فراغية واستهلاك منخفض للأرجون تقنية Argon jet لتحسين تحليل العينات الصغيرة تعديل المعلمة الموحدة 30+ عنصر كحد أقصى تحليل النيتروجين (N) عالي 0.03-0.9٪
- محلل السبائك والمعادن
- مطياف محلل المعادن
- مطياف القراءة المباشرة
عرض المزيد
مطياف OES للقراءة المباشرة لتحليل المعادن
محلل المعادن عالي الأداء من الجيل الرابع القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، الكشف عن المعادن حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض تكامل عالي وموثوقية واستقرار انخفاض تكلفة التشغيل وسهولة الصيانة غرفة بصرية فراغية واستهلاك منخفض للأرجون تقنية Argon jet لتحسين تحليل العينات الصغيرة تعديل المعلمة الموحدة 30+ عنصر كحد أقصى تحليل النيتروجين (N) عالي 0.03-0.9٪

عرض المزيد
مطياف Arc Spark OES لتحليل المعادن
محلل المعادن عالي الأداء من الجيل الرابع القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، الكشف عن المعادن حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض تكامل عالي وموثوقية واستقرار انخفاض تكلفة التشغيل وسهولة الصيانة غرفة بصرية فراغية واستهلاك منخفض للأرجون تقنية Argon jet لتحسين تحليل العينات الصغيرة تعديل المعلمة الموحدة 30+ عنصر كحد أقصى تحليل النيتروجين (N) عالي 0.03-0.9٪
- قوس شرارة oes
- يا شرارة
عرض المزيد