مطياف الانبعاث البصري ,محلل المعادن ,مورد شرارة OES

مطياف الانبعاث البصري للشرارة للمواد الأساسية Galvalume

القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، مطياف الانبعاث البصري متعدد القواعد ، تحليل كامل للطيف لأقصى قدر من المرونة الأولية حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض نطاق الطول الموجي: 130nm-800nm ، بحد أقصى 30+ عنصرًا الاستقرار والتكرار على المدى الطويل مطيافية انبعاث ضوئي رأسية ممتازة مقياس فراغ لمراقبة حالة الفراغ في الوقت الحقيقي تحليل الكربون المنخفض للغاية ، تحليل النيتروجين المنخفض تطبيقات تحليل العينات الصغيرة

العلامات :

عرض المزيد

مطياف الانبعاث الضوئي Arc Spark للألمنيوم

القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، مطياف الانبعاث البصري متعدد القواعد ، تحليل كامل للطيف لأقصى قدر من المرونة الأولية حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض نطاق الطول الموجي: 130nm-800nm ، بحد أقصى 30+ عنصرًا الاستقرار والتكرار على المدى الطويل مطيافية انبعاث ضوئي رأسية ممتازة مقياس فراغ لمراقبة حالة الفراغ في الوقت الحقيقي تحليل الكربون المنخفض للغاية ، تحليل النيتروجين المنخفض تطبيقات تحليل العينات الصغيرة

العلامات :

مطياف الانبعاث الضوئي القوسي
مطياف شرارة القوس

عرض المزيد

مطياف الانبعاث الضوئي CCD لتحليل المعادن

على أساس ccd , تفريغ شرارة , محلل المعادن . تحليل دقيق لجميع المعادن الشائعة لمراقبة جودة المنتجات الواردة والصادرة . نطاق الطول الموجي الفعال: 130nm-800nm . قابلية التوسع الفائقة لتلبية احتياجات توسيع الأعمال وعرة وموثوقة , سهل تنفيذه متاح كنموذج منضدة أو أرضية

العلامات :

عرض المزيد

مطياف OES المستخدم في علم المعادن

مطياف الانبعاث البصري TY-9000 (قوس / شرارة) على أساس ccd , تفريغ شرارة , محلل المعادن . تحليل دقيق لجميع المعادن الشائعة لمراقبة جودة المنتجات الواردة والصادرة . نطاق الطول الموجي الفعال: 130nm-800nm . قابلية التوسع الفائقة لتلبية احتياجات توسيع الأعمال وعرة وموثوقة , سهل تنفيذه متاح كنموذج منضدة أو أرضية

العلامات :

عرض المزيد

مطياف الانبعاث البصري المستخدم في تحليل الصلب

تكلفة إجمالية منخفضة للملكية بصريات خالية من الفراغ مع تثبيت سريع أداء تحليلي وموثوقية لا مثيل لهما استقرار ممتاز على المدى الطويل سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر تصميم مدمج ، حجم صغير. 20 عنصرًا كحد أقصى

العلامات :

عرض المزيد

Spark OES تحليل مطياف الانبعاث البصري

نظام قراءة CMOS عالي الدقة تكلفة إجمالية منخفضة للملكية توفر البصريات الفراغية استقرارًا سريعًا استقرار ممتاز على المدى الطويل تصميم ذكي ، تصميم معياري التطبيقات الحديدية وغير الحديدية سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر واجهة مستخدم ودية

العلامات :

عرض المزيد

مطياف الانبعاث البصري Arc Spark المستخدم في صناعة الصلب

محلل المعادن عالي الأداء من الجيل الرابع القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، الكشف عن المعادن حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض تكامل عالي وموثوقية واستقرار انخفاض تكلفة التشغيل وسهولة الصيانة غرفة بصرية فراغية واستهلاك منخفض للأرجون تقنية Argon jet لتحسين تحليل العينات الصغيرة تعديل المعلمة الموحدة 30+ عنصر كحد أقصى تحليل النيتروجين (N) عالي 0.03-0.9٪

العلامات :

عرض المزيد

مطياف الانبعاث البصري الفراغي لتحليل الهيكل المعدني

نظام قراءة CMOS عالي الدقة تكلفة إجمالية منخفضة للملكية توفر البصريات الفراغية استقرارًا سريعًا استقرار ممتاز على المدى الطويل تصميم ذكي ، تصميم معياري التطبيقات الحديدية وغير الحديدية سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر واجهة مستخدم ودية

العلامات :

عرض المزيد

مطياف الانبعاث الضوئي Arc Spark لاختبار العناصر وتحليلها

محلل المعادن عالي الأداء من الجيل الرابع القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، الكشف عن المعادن حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض تكامل عالي وموثوقية واستقرار انخفاض تكلفة التشغيل وسهولة الصيانة غرفة بصرية فراغية واستهلاك منخفض للأرجون تقنية Argon jet لتحسين تحليل العينات الصغيرة تعديل المعلمة الموحدة 30+ عنصر كحد أقصى تحليل النيتروجين (N) عالي 0.03-0.9٪

العلامات :

عرض المزيد

محلل معادن مطياف الانبعاث البصري OES

نظام قراءة CMOS عالي الدقة تكلفة إجمالية منخفضة للملكية توفر البصريات الفراغية استقرارًا سريعًا استقرار ممتاز على المدى الطويل تصميم ذكي ، تصميم معياري التطبيقات الحديدية وغير الحديدية سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر واجهة مستخدم ودية

العلامات :

عرض المزيد

سبائك معدنية مطياف الانبعاث البصري القراءة المباشرة

محلل المعادن عالي الأداء من الجيل الرابع القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، الكشف عن المعادن حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض تكامل عالي وموثوقية واستقرار انخفاض تكلفة التشغيل وسهولة الصيانة غرفة بصرية فراغية واستهلاك منخفض للأرجون تقنية Argon jet لتحسين تحليل العينات الصغيرة تعديل المعلمة الموحدة 30+ عنصر كحد أقصى تحليل النيتروجين (N) عالي 0.03-0.9٪

العلامات :

عرض المزيد

تحليل المعادن مطياف القراءة المباشرة للانبعاثات الضوئية

القائم على CMOS ، تفريغ شرارة ، مطياف الانبعاث البصري متعدد القواعد ، تحليل كامل للطيف لأقصى قدر من المرونة الأولية حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض نطاق الطول الموجي: 130nm-800nm ، بحد أقصى 30+ عنصرًا الاستقرار والتكرار على المدى الطويل مطيافية انبعاث ضوئي رأسية ممتازة مقياس فراغ لمراقبة حالة الفراغ في الوقت الحقيقي تحليل الكربون المنخفض للغاية ، تحليل النيتروجين المنخفض تطبيقات تحليل العينات الصغيرة

العلامات :

عرض المزيد