نظام قراءة CMOS عالي الدقة
تكلفة إجمالية منخفضة للملكية
توفر البصريات الفراغية استقرارًا سريعًا
استقرار ممتاز على المدى الطويل
تصميم ذكي ، تصميم معياري
التطبيقات الحديدية وغير الحديدية
سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر
واجهة مستخدم ودية
ملخص :
W 4 Spectrometer هو الأداة الأكثر ملاءمة لـ
تحديد العناصر المختلفة في مختلف المصفوفات (Fe ، Cu ، Al ، Ni ، Co ، Mg ، Ti ، Zn ، Pb ، Sn ، Ag ، إلخ). إنه حل e conomical و e asy للتحليل السريع بالقرب من الفرن ، ومراقبة جودة معالجة المعادن وفحص المواد الواردة ، مختبرات البحث وتحديد الصفات المعدنيةهذا ايضا
يمنح المستخدم مطيافًا مخادعًا حقيقيًا كلاهما سهل الاستخدام وسهل المساحة المحفوظة. يستخدم النظام البصري كاشف CMOS مع نطاق طيفي يغطي جميع المواد النموذجية. يمكنه التحليل الدقيق والموثوق من العناصر منخفضة المستوى إلى العناصر عالية المحتوى. يسمح تصميم الهيكل المضغوط للمستخدمين بدمج الإنتاج ومراقبة الجودة بشكل أوثق
التطبيقات :
تحتاج وحدات الصلب هنا إلى حوالي 10 0 جزء في المليون من المستويات أو عناصر مثل C ، Cr ، S ، P إلخ .
مصانع الدرفلة والمسابك وورش العمل: تحليل سريع. اختبر عدة مئات من العينات يوميًا
مصنعي السبائك: أي عدد من القواعد / المصفوفات ؛ مستقر ودقيق للغاية
المعامل الاختبارية: المعامل التجارية والجامعات والكليات
الصناعات متوسطة الحجم: متينة للغاية واقتصادية ؛ تكلفة منخفضة / تحليل
المسابك التي تحتاج إلى تحليل سريع بالقرب من الفرن
تحديد مواد المستودعات
القاعدة: Fe ، Cu ، Al ، Ni ، Co ، Mg ، Ti ، Zn ، Pb ، Sn ، Ag ، إلخ
سمات:
موثوقة دقيقة وسريعة ومتعددة الاستخدامات وبأسعار معقولة
وحدة سطح مكتب مصممة مدمجة
توفير الطاقة ، الطاقة الاحتياطية 50VA ،
يحقق بيانات أكثر دقة عن طريق تعديل المعلمة الموحدة
يمكن لكاشف CMOS عالي الدقة تحقيق تحليل كامل للطيف.
تغطية كاملة للطول الموجي ، ومعايرة مصنع مخصصة ، وإضافة عنصر جديد دون تكوين مزيد من الأجهزة.
نطاق الطول الموجي 1 65 نانومتر ~ 5 89 نانومتر (قابل للتمديد) ، يمكن أن تغطي الخطوط الطيفية جميع العناصر المهمة
التحكم في درجة حرارة مطياف يضمن الدقة العالية والاستقرار
تقارير مخصصة وبرامج تشخيص سريع
مصدر شرارة رقمي قابل للبرمجة ، يولد شكل موجة تفريغ محسّن لقواعد مختلفة.
نظام تشخيص وحماية الإثارة المتقدم لضمان سلامة التشغيل
التحكم في تطهير الأرجون يحمي عدسة المدخل من التلوث ، ويقلل من الصيانة
التقاط بيانات احترافي ، دقة محسّنة عن طريق تقليل التداخل في الخلفية
معايرة المصنع العالمية مع تصحيح التداخل
دعم التكنولوجيا وتحديث البرامج مجانًا.
نظام قراءة CMOS عالي الدقة
تكلفة إجمالية منخفضة للملكية
توفر البصريات الفراغية استقرارًا سريعًا
استقرار ممتاز على المدى الطويل
تصميم ذكي ، تصميم معياري
التطبيقات الحديدية وغير الحديدية
سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر
واجهة مستخدم ودية
نظام قراءة CMOS عالي الدقة
تكلفة إجمالية منخفضة للملكية
توفر البصريات الفراغية استقرارًا سريعًا
استقرار ممتاز على المدى الطويل
تصميم ذكي ، تصميم معياري
التطبيقات الحديدية وغير الحديدية
سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر
واجهة مستخدم ودية
نظام قراءة CMOS عالي الدقة
تكلفة إجمالية منخفضة للملكية
توفر البصريات الفراغية استقرارًا سريعًا
استقرار ممتاز على المدى الطويل
تصميم ذكي ، تصميم معياري
التطبيقات الحديدية وغير الحديدية
سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر
واجهة مستخدم ودية
نظام قراءة CMOS عالي الدقة
تكلفة إجمالية منخفضة للملكية
توفر البصريات الفراغية استقرارًا سريعًا
استقرار ممتاز على المدى الطويل
تصميم ذكي ، تصميم معياري
التطبيقات الحديدية وغير الحديدية
سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر
واجهة مستخدم ودية
نظام قراءة CMOS عالي الدقة
تكلفة إجمالية منخفضة للملكية
توفر البصريات الفراغية استقرارًا سريعًا
استقرار ممتاز على المدى الطويل
تصميم ذكي ، تصميم معياري
التطبيقات الحديدية وغير الحديدية
سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر
واجهة مستخدم ودية
نظام قراءة CMOS عالي الدقة
تكلفة إجمالية منخفضة للملكية
توفر البصريات الفراغية استقرارًا سريعًا
استقرار ممتاز على المدى الطويل
تصميم ذكي ، تصميم معياري
التطبيقات الحديدية وغير الحديدية
سهل الاستخدام مع تحكم كامل بجهاز الكمبيوتر
واجهة مستخدم ودية
ICP-OES المتزامن للتحليل الأولي للسوائل
نطاق الطول الموجي: 195-800 نانومتر
لـ 70 من العناصر النزرة والعناصر الكبيرة
تحليل ما يصل إلى 600 عينة في اليوم
تكاليف تشغيل منخفضة
عملية بديهية
حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض
سرعة فائقة للقياس
مواد مرجعية معتمدة تعتمد على Fe
المواد المرجعية المعتمدة القائمة على ni
المواد المرجعية المعتمدة القائمة على cu
المواد المرجعية المعتمدة على أساس
المواد المرجعية المعتمدة على أساس ملغ
المواد المرجعية المعتمدة القائمة على sn
المواد المرجعية المعتمدة على أساس pb
© حقوق النشر © 2023 Wuxi Jinyibo Instrument Technology Co.,Ltd كل الحقوق محفوظة.
خريطة الموقع | Xml | سياسة خاصة |
苏ICP备18046951号-1
