إن أداة قياس الشبكة ذات الوجهين للعتاد الدودي الذكي من نوع CSW هي أداة Lee Power Gages في السوق الحالية على أساس مزايا أداة الالتقاط المزدوجة جنبًا إلى جنب مع المتطلبات الفعلية لمصنعي التروس وبيئة الاستخدام الميداني وعادات التشغيل وأحدث تطورات جيل جديد من أدوات التحكم الذكية بالكمبيوتر الصغير عبر الإنترنت.
الميزات
يعتمد المنتج نظامًا عالي الدقة للتحكم في الحركة والحصول على بيانات الأخطاء، والذي يمكنه قياس الانحراف الشعاعي الإجمالي Fi تلقائيًا، والانحراف الشعاعي للأسنان الواحدة fi" والتدفق الشعاعي Fr" عند تعشيق الترس الدودي. المسافة المركزية، والانحراف العلوي لـ تم الكشف عن المسافة المركزية، والانحراف الأقل للمسافة المركزية (Eas، Eai)، والخط العادي المشترك Wk، ومسافة الامتداد (M) للعتاد الدودي والدودة في وضع قياس المسافة المركزية، وهو مناسب للمستخدمين للحكم بسرعة على اقتران الدودة والعتاد والدودة يمكن أن تلبي وتستمر في تطوير متطلبات القياس الجديدة التي طرحها المستخدمون.
المواصفات
1. الانحراف المركب الشعاعي ï¼ï¼Fiï¼.
2. انحراف شعاعي من سن إلى سن.
3. شعاعي نفاد ï¼ï¼Frâï¼.
4. الخط العادي المشترك: ¼ï¼Wï¼.
5. المسافة عبر بكرات ï¼ï¼Mï¼.
6. مركز المسافة حركة الانحراف العلوي والسفلي ï¼ï¼Eas、Eaiï¼.
خبير 1 محلل LIBS محمول باليد
سريع . دائم . دقيق .
موثوق , تحليل درجة المعدن عالي الإنتاجية في ثانية واحدة فقط لمعظم السبائك
فكرة لفرز المعادن الخردة
التعريف المادي الإيجابي (pmi)
آمنة وغير مشعة
تكلفة منخفضة للمالك
خاصة لتحليل درجة سبائك الألومنيوم والتركيب
أسرع جهاز تحليل XRF محمول باليد.
تحديد الدرجة في ثانية واحدة لأي معدن.
اختبار كيميائي كامل في 3-5 ثواني للفولاذ المقاوم للصدأ والسبائك الأخرى.
اختبار كيميائي كامل في 7-8 ثواني لسبائك الألومنيوم.
مطياف الانبعاث البصري القائم على CMOS، تفريغ الشرارة
قواعد متعددة، تحليل الطيف الكامل لتحقيق أقصى قدر من المرونة للعناصر
حدود الكشف منخفضة للغاية
نطاق الطول الموجي: 130 نانومتر - 800 نانومتر، بحد أقصى 30 عنصرًا
الاستقرار والتكرار على المدى الطويل
مطيافية الانبعاث البصري العمودي الممتازة
مقياس الفراغ لمراقبة حالة الفراغ في الوقت الحقيقي
تحليل منخفض الكربون والنيتروجين للغاية
تطبيقات تحليل العينات الصغيرة
المواد المرجعية المعتمدة من SUS المستندة إلى cu
مواد مرجعية معتمدة من SUS تعتمد على mg
المواد المرجعية المعتمدة من SUS المستندة إلى zn
المواد المرجعية المعتمدة من SUS المعتمدة على fe
المواد المرجعية المعتمدة على أساس SUS
المواد المرجعية المعتمدة SUS المستندة إلى sn
دقيق , سريع , غير مدمر , مباشر , وقائي بيئي
للعناصر في نطاق na-u
اختبار خالٍ من الهالوجين , اختبار ROHS / ELV
قياس سماكة الطلاء
التعرف على المجوهرات , الأحجار الكريمة , المعادن النفيسة
إتقان المواد غير المعروفة
الحساسية الفائقة تؤدي إلى دقة محسنة تصل إلى عامل 3
تكلفة قياس منخفضة , سهل التشغيل
نظام قراءة مباشر عالي الدقة بتقنية CMOS
وفر المساحة بأصغر حجم ووزن
أداء عالي التكلفة مع أداء ممتاز
تحديد جيد للعناصر المختلفة في المصفوفات المتنوعة
إجراء تحليل كمي سريع ودقيق
يتم ضخ الأرجون بأقل استهلاك ممكن للأرجون
برنامج تحليل آلي متكامل مزود بوظيفة تشخيصية
ICP-OES المتزامن للتحليل الأولي للسوائل
نطاق الطول الموجي: 195-800 نانومتر
لـ 70 من العناصر النزرة والعناصر الكبيرة
تحليل ما يصل إلى 600 عينة في اليوم
تكاليف تشغيل منخفضة
عملية بديهية
حدود الاكتشاف شديدة الانخفاض
سرعة فائقة للقياس
المعايير المحمولة: VDA19، ISO16232، NAS1638، ISO4406 وغيرها من المعايير.
وقت التحليل: أقل من 3 دقائق.
حجم الجسيمات: ≥15 اممم
دقة التكرار: أعلى من 98% (تم مسح الغشاء بشكل متكرر لمدة 10 مرات)
وضع المسح: المسح التلقائي
مصدر الضوء: وضع الاستقطاب المزدوج التلقائي الذي يتم التحكم فيه بواسطة البرنامج.
تحديد الجسيمات: الجسيمات المعدنية، الجسيمات غير المعدنية، الألياف.
© حقوق النشر © 2026 Wuxi Jinyibo Instrument Technology Co.,Ltd كل الحقوق محفوظة.
خريطة الموقع | Xml | سياسة خاصة |
苏ICP备18046951号-1
